美國(guo)Medcom INSPECTOR射(she)線(xian)報(bao)警(jing)檢(jian)測(ce)儀

手持式α、β、γ和(he)X多功(gong)能(neng)沾(zhan)汙計量(liang)儀（α、β、γ和X輻射檢測儀）為您提供了(le)快(kuai)速(su)、精(jing)、便捷(jie)的輻射檢測手段(duan)。既(ji)可做輻射劑(ji)量(liang)率檢(jian)測(ce)又(you)能用於表面(mian)汙染(ran)測量(liang)，本產(chan)品(pin)采用GM探(tan)測(ce)方(fang)法，用以監測放射(she)性工作(zuo)場(chang)所(suo)和表(biao)面(mian)、實驗(yan)室(shi)的工作(zuo)臺(tai)面(mian)、地(di)板(ban)、墻(qiang)壁、手、衣服(fu)、鞋(xie)的α、β、γ和X放(fang)射(she)性汙染(ran)計數(shu)測量(liang)以及環境劑(ji)量(liang)率，是(shi)壹款性價(jia)比(bi)高(gao)的輻射測量(liang)儀器。 
常用於： 
1.檢查(zha)局部(bu)的輻射泄(xie)露和核(he)輻射汙染(ran)； 
2.檢查(zha)周圍(wei)環境的氡輻射； 
3.檢查(zha)石材等建(jian)築(zhu)材料(liao)的放射(she)性 ； 
4.檢查(zha)有(you)核輻射危險的填(tian)埋地(di)和(he)垃(la)圾(ji)場； 
5.檢(jian)測(ce)從醫(yi)用到(dao)工(gong)業(ye)用的X射線(xian)儀器的X射線(xian)輻射強度(du)； 
6.檢查(zha)地(di)下(xia)水(shui)鐳(lei)汙(wu)染(ran)； 
7.檢查(zha)地(di)下(xia)鉆(zuan)管(guan)和(he)設備的放射(she)性； 
8.監視核(he)反(fan)應堆周(zhou)圍(wei)空氣和水(shui)質(zhi)的汙染(ran)； 
9.檢查(zha)個人(ren)的貴(gui)重財產和珠寶(bao)的有(you)害(hai)輻射； 
10.檢查(zha)瓷(ci)器餐具(ju)玻璃(li)杯(bei)等的放射(she)性； 
11.精(jing)定位(wei)輻射源； 

12.家(jia)居(ju)裝飾的檢測(ce)。

產(chan)品(pin)特點(dian)：

1、四位(wei)液晶(jing)顯(xian)示(shi) 
2、檢測α、β、γ和X射(she)線(xian) 
3、計數(shu)測量(liang)、總(zong)計數(shu)測量(liang)和劑(ji)量(liang)率測(ce)量(liang) 
4、1分-24小(xiao)時定時測量(liang) 
5、γ和X線(xian)：20kev，β>100kev，α>2Mev，對(dui)Cs-137源為(wei)5.8Cps/μSv/h; 

技術(shu)參數(shu)：

檢測(ce)器

內置卥(卥)素(su)淬(cui)滅GM管(guan)，具(ju)有(you)雲母窗口(kou)，1.5-2.0mg/cm2面(mian)密(mi)度(du)。窗口有(you)效直(zhi)徑45mm(1.75in)
Inspector型(xing)(只有(you)內部(bu)GM管)在(zai)前(qian)面(mian)板中(zhong)心(xin)有(you)射線(xian)標記(ji)標記(ji)
平(ping)均周(zhou)期(qi)
每3秒更新顯(xian)示(shi)讀(du)數(shu)。在(zai)低本(ben)底值(zhi)檢測時，更新速(su)率(lv)是(shi)之(zhi)前(qian)30秒(miao)時段(duan)的移(yi)動(dong)平均值(zhi)。該(gai)時間周(zhou)期會因輻射值增加而下(xia)降(jiang)。
操作(zuo)範(fan)圍(wei)
mR/hr(毫倫(lun)/小(xiao)時)：0.001～110
μSV/hr(微希伏/小(xiao)時)：0.01～1100
CPM(每分鐘計數(shu))：0～350,000
CPS(每秒鐘計數(shu))：0～5,000
精(jing)度(du)(Cs137)
mR/hr±10%壹般(NIST)，±15%很大：0～100
μSV/hr±10%壹般(NIST)，±15%很大：01～1000
CPM±10%壹般(NIST)，±15%很大：0～350,000
能量(liang)靈敏(min)度(du)
測定α低至(zhi)2MeV。測定(ding)β低(di)至(zhi)0.16MeV。壹般在(zai)1MeV的檢測(ce)效(xiao)率(lv)大約25%。通過(guo)窗(chuang)口(kou)末(mo)端測定γ低至(zhi)10KeV。
3,340 CPM/mR/hr(Cs137)。在(zai)接觸(chu)下(xia)對(dui)於I125很細檢(jian)測(ce)限值(zhi)為(wei)0.02μCi。
顯(xian)示(shi)
4數(shu)字(zi)液晶(jing)體顯(xian)示(shi)屏(ping)
報(bao)警(jing)設置範(fan)圍(wei)
mR/hr：0.001-50及CPM：1-160,000。1米內達70分貝(bei)
計數(shu)燈
每輻射事件(jian)均發(fa)出(chu)紅色LED閃爍
鳴聲(sheng)
內(nei)置蜂(feng)鳴器(可切(qie)換為靜(jing)音(yin)模(mo)式(shi))
輸(shu)出(chu)
雙(shuang)微型(xing)插孔(kong)，用於驅CMOS或(huo)TTL設備，連接計算(suan)機(ji)或數(shu)據記(ji)錄(lu)器
微型(xing)輸(shu)入(ru)插孔(kong)，用於電子(zi)校準(zhun)
抗飽(bao)和
在(zai)超出(chu)很大測量(liang)值100倍(bei)時，儀器固(gu)定在(zai)全量(liang)程(cheng)位置
電(dian)源(yuan)
1節(jie)9V堿性電池。在(zai)壹般本(ben)底(di)值時，電池壽命大約2160小(xiao)時
重量(liang)
主機(ji)：273g(不含(han)電(dian)池)
體積(ji)
150x80x30mm
標配
便攜(xie)袋(dai)及CE證(zheng)書(shu)

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